芯片恒温恒湿测试箱
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芯片恒温恒湿测试箱

芯片恒温恒湿测试箱主要为电子电器、通讯、化工、五金、橡胶、玩具等各行业产品研发、生产、检验各环节的试验提供恒定湿热,复杂高低温交变等试验环境和试验条件。

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芯片恒温恒湿测试箱

芯片恒温恒湿测试箱主要为电子电器、通讯、化工、五金、橡胶、玩具等各行业产品研发、生产、检验各环节的试验提供恒定湿热,复杂高低温交变等试验环境和试验条件。

芯片恒温恒湿测试箱主要型号及技术参数(可非标定制):      

标准型号:

     1.AP-HX-80

     2.AP-HX-150

     3.AP-HX-225

     4.AP-HX-408

     5.AP-HX-800

     6.AP-HX-1000  

内箱容积(L):

          80L

          150L

          225L

          408L

          800L

          1000L

内箱尺寸(宽**深):

              40*50*40

              50*60*50

              50*75*60

              60*85*80

              100*100*80

              100*100*100

温度范围(RT):

          A.0-150

          B.-20-150

          C.-40-150

          D.-60-150

          F.-70-150℃      

湿度范围(RH):20%-98%










1.温湿度控制精度:±0.01℃  ±0.01%RH

2.温湿度均匀度:±2℃  ±3%RH

3.升降温时间:每分钟升温3℃,每分钟降温1℃

4.内箱材质:不锈钢(304)

5.外箱材质:不锈钢或烤漆

6.保温材质:硬质发泡及玻璃棉

7.风路循环方式:离心风机+宽带式强迫气流循环(上出下进)

8.制冷方式:气冷式、单级或复叠式制冷,压缩机(采用法国泰康或德国比泽尔半封闭压缩机)

9.加热器:镍(niè)铬合金电热线加热器

10.加湿器:不锈钢护套式加湿器

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