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电子产品高低温冲击试验箱

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    电子产品高低温冲击试验箱

    电子产品高低温冲击试验箱用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、塑胶等行业,国防工业、航天、兵工业、电子芯片IC、 半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的理想测试工具。

    内容积50L 跟多型号规格可联系18033338362

    内箱尺寸400 *350 *350mm     (W* H *D)

    外型尺寸(约)1350*1900*1650mm     (W* H *D)

    重  量约900㎏

    测试室温度范围:-40℃~+150 ℃ (风冷式)

    预热温度范围RT~+165℃

    升温时间+50℃→+165℃ ≤30min注:升温时间为高温室单独运转时的性能

    预冷温度范围RT~-55℃

    降温时间+20℃ → -55℃≤约60min注:降温时间为低温室单独运转时的性能

    三厢式冷热冲击试验箱的结构特点:

    1. 产品外形美观、结构合理、工艺先进、选材考究。 

    2. 设备分为高温室、低温室、测试室三部分,采独特之断热结构及蓄热蓄冷效果,试验时待测物完全静止,应用冷热风路切换方式将冷、热温度导入测试区实现冷热冲击测试目的。

    3. 采用触控式液晶(LCD)显示人机介面控制器,计测装置, 操作简单, 学习容易, 稳定可靠,中,英文显示完整的系统操作状况、执行及设定程序曲线。 

    4. 具96个试验规范独立设定,冲击时间999小时59zui大分钟, 循环周期1~999次可设定, 可实现制冷机自动运转,zui大程度上实现自动化,减轻操作人员工作量,可在任意时间自动启动﹑停止工作运行。 

    5. 箱体左侧具有50mm之测试孔1个,可供外加电源负载配线测试部件。

    6. 可独立设定高温、低温及冷热冲击三种不同条件之功能,并于执行冷热冲击条件时,可选择二槽式或三槽式及冷冲、热冲进行冲击之功能,具备高低温试验机的功能。具备全自动,高精密系统回路、任一机件动作,完全有P.L.C锁定处理,全部采用P.I.D自动演算控制,温度控制精度高。 


     

     

     

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